分析方法能量色散X熒光分析方法
測(cè)量元素范圍鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測(cè)量
同時(shí)檢測(cè)元素數(shù)幾十種元素可同時(shí)分析
處理器和內(nèi)存CPU：667MHz,內(nèi)存：256M，擴(kuò)展存儲(chǔ)最大支持32G，標(biāo)配2G，可以海量存儲(chǔ)數(shù)據(jù)
含量范圍ppm～99.99%
檢測(cè)時(shí)間3-30秒
GPS、WIFI內(nèi)置系統(tǒng)
檢測(cè)對(duì)象固體、液體、粉末
探測(cè)器25mm2 0.3mil，SDD探測(cè)器
探測(cè)器分辨率最低可達(dá)139eV
激發(fā)源40KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源
視頻系統(tǒng)高清晰攝像頭
顯示屏半透半反式液晶顯示觸摸屏，其分辨率是640*480
檢出限最低檢出限達(dá)ppm級(jí)
安全性自帶密碼管理員模式，數(shù)據(jù)可隨意保存
可充氣系統(tǒng)常壓充氦氣系統(tǒng)
數(shù)據(jù)傳輸數(shù)字多道技術(shù)，SPI數(shù)據(jù)傳輸，分析，高計(jì)數(shù)率
操作環(huán)境濕度≤90%
儀器外形尺寸234×306×82mm（L×H×W）
儀器重量1.9Kg（配備電池），1.6Kg（無(wú)電池）
手持光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，主要由X光管、探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成，由于其便攜具有便攜、準(zhǔn)確等特點(diǎn)，使其在合金、礦石、環(huán)境、消費(fèi)品等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。尤其適合于不銹鋼材料的牌號(hào)確認(rèn)以及定量測(cè)量元素。
對(duì)于金屬制造行業(yè)來(lái)說(shuō) ,質(zhì)量控制和非常重要。材料檢驗(yàn)是確保金屬制品使用合格材質(zhì)的關(guān)鍵。如 果使用不合格的金屬合金,會(huì)引起災(zāi)難性事故,給企業(yè) 帶來(lái)巨大的經(jīng)濟(jì)損失。手持合金成分分析儀是檢測(cè)金屬材料是否合格的關(guān)鍵性手段。有了手持式合金分析儀，質(zhì)量控制以及檢測(cè)人員可以 在完全無(wú)損的條件下,每天地檢測(cè)上千個(gè)金屬合金樣 品。即使是普通工作人員也有把握地將大量的 樣 品 測(cè) 出 完 整 而 準(zhǔn)確 的 結(jié) 果 。測(cè)試時(shí)間是1~2秒,無(wú)需制備樣品,從金屬細(xì)絲到成品焊點(diǎn),螺釘, 金屬板 ——所有這些樣品都可以被手持分析儀檢測(cè)。
手持式光譜儀設(shè)備維護(hù)與保養(yǎng)：
1.手持式光譜儀使用過(guò)程中應(yīng)輕拿輕放，防止內(nèi)部零件受損。
2.保持檢測(cè)口薄膜的清潔，檢測(cè)口薄膜被污染可能引起檢測(cè)誤差。檢測(cè)口薄膜破損繼續(xù)使用可能會(huì)造成手持式光譜儀的損壞。應(yīng)及時(shí)清潔或更換。
3.被檢測(cè)物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機(jī)或金剛砂去除，以免造成測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確，被檢測(cè)物表面凹凸不平、有毛刺時(shí)應(yīng)在檢測(cè)時(shí)注意，防止手持式光譜儀檢測(cè)口薄膜損壞。檢測(cè)鍍件時(shí)，要將電鍍層去除。
4.手持式光譜儀電池使用至10%時(shí)，應(yīng)更換電池，充電。
手持式光譜儀用于的定量定性分析：
手持式光譜儀是一種功能強(qiáng)大,并且可擴(kuò)展的手持式光譜儀,廣泛用于金屬材料的成分分析,牌號(hào)鑒別和分選.它包括激發(fā)和配有可充電電池的光譜儀主機(jī)兩部分.它工作時(shí),既不需要?dú)鍤?也不需要放射源。 1、原理：手持式光譜儀屬于熒光光譜,實(shí)驗(yàn)室用的直讀屬于火花直讀光譜,是激發(fā)源不同 2、精度：手持式光譜儀主要用于定性分析,實(shí)驗(yàn)室用的火花直讀光譜主要用于定量分析 3、分析范圍：手持式光譜儀可分析金屬及礦石,并且可分析一些火花直讀無(wú)法激發(fā)的基體,例如鋯基體；實(shí)驗(yàn)室直讀光譜儀雖然分析的基體比手持式的少,但是相同基體里分析的元素種類(lèi)比手持式的要多。
手持式分析儀 探測(cè)器：13mm2 電致冷Si-PIN探測(cè)器 激發(fā)源：40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測(cè)時(shí)間：10-200秒（可手持式或座立式測(cè)試） 檢測(cè)對(duì)象：固體、液體、粉末 檢測(cè)范圍：硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時(shí)分析元素：多至26個(gè)元素 元素檢出限：0.001%～0.01% 校正方式： 銀(Ag) 性：自帶模式，非授權(quán)人員無(wú)法使用 Data使用性：可在PDA內(nèi)進(jìn)行編輯，可導(dǎo)入PC機(jī)進(jìn)行 保存打印，配備海量存儲(chǔ)卡 電 源： 兩塊鋰電池滿(mǎn)電可連續(xù)工作8小時(shí)
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來(lái)源有： (1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不完全相同時(shí)，可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變，從而引入誤差。 (2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不完全相同時(shí)，激發(fā)的特征譜線會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過(guò)退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過(guò)程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí)，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 (5)要系統(tǒng)誤差，必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對(duì)結(jié)果。
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